1、支持2寸、6寸、8寸、12寸晶圆测试

2、操作便捷，触屏操作、鼠标操作、遥感操作3种操作方式均可

3、可以提供广泛的应用场景

    建模：DC-IV、DC-CV、P-IV

    射频、mmW、负载牵引测试及四端口配置应用

    集成电路设计验证失效分析，支持常温至300°C宽温范围测试

4、扩展灵活性

    可同时使用微定位器和探针卡

    可编程显微镜移动实现更高自动化与易用性

    提供至IC测试仪的最短电缆接口

    为毫米波测试和主动探针接触最小化压板至卡盘距离

    支持薄膜框架探测

    可升级配备IceFreeEnvironment™防结冰系统，实现开腔低温测试不结霜，温度范围覆盖-60℃-300℃